透射附件
W200 晶圆自动测试附件
W200是一款自动的反射、透射测试附件，可用于半导体晶圆的C、O含量，外延层厚度测试，也可用于其它有多样品、自动分析需求的应用场景。
V200自动垂直透射附件
V200是W200的改进版，透射模式采用垂直入射，并缩小了光斑面积，特别适合滤光片等小样品的透过率自动测试。
光催化透射附件
用于室温下的光催化透射测试附件。
W200是一款自动的反射、透射测试附件，可用于半导体晶圆的C、O含量，外延层厚度测试，也可用于其它有多样品、自动分析需求的应用场景。
V200是W200的改进版，透射模式采用垂直入射，并缩小了光斑面积，特别适合滤光片等小样品的透过率自动测试。
用于室温下的光催化透射测试附件。