VeeMAX III 变角单次反射ATR

可变角度单次反射ATR,用于多层膜、镀层、脱模剂、硅外延层、金属或硅片等表面单层膜或超薄膜、化学迁移等的分析,亦可用于红外光谱电化学研究。

SKU: 013-11XX 类别: ,

产品特点:

  • 30°~80°连续可变入射角

 

 

 

 

 

 

  • 0.4-46微米入射深度,适合深度剖析,如多层膜、镀层分析

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

  • 20mm大尺寸晶体,非常适合硅片或金属基底表面的单层膜、超薄膜分析,相比于镜面反射,灵敏度可提高1-2数量级

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

  • 结合电化学池用于红外光谱电化学研究

 

 

 

 

 

 

  • 高光通量,以短的扫描时间提供高的光谱质量,提高检出限
  • 可选ZnSe\Ge\Si\ZnS晶体
  • 可作为变角镜面反射附件使用
  • 预留偏振片位置,可选配手动或自动偏振片
  • 可选配自动版,软件调节入射角

 

 

 

 

 

 

 

  • 可加热晶体盘,最高温度至130℃